Číslo dílu výrobce : | 8V182512IDGGREP |
---|---|
Stav RoHs : | Bez olova / V souladu RoHS |
Výrobce / značka : | Luminary Micro / Texas Instruments |
Stav zásob : | 2101 pcs Stock |
Popis : | IC ABT SCAN TEST DEV3.3V 64TSSOP |
Odeslat z : | Hongkong |
Datasheety : | |
Cesta zásilky : | DHL/Fedex/TNT/UPS/EMS |
Číslo dílu | 8V182512IDGGREP |
---|---|
Výrobce | |
Popis | IC ABT SCAN TEST DEV3.3V 64TSSOP |
Stav volného vedení / RoHS | Bez olova / V souladu RoHS |
Dostupné množství | 2101 pcs |
Datasheety | |
Napájení | 2.7 V ~ 3.6 V |
Dodavatel zařízení Package | 64-TSSOP |
Série | - |
Obal | Tape & Reel (TR) |
Paket / krabice | 64-TFSOP (0.240", 6.10mm Width) |
Ostatní jména | 296-22075-2 V62/04730-01XE |
Provozní teplota | -40°C ~ 85°C |
Počet bitů | 18 |
Typ montáže | Surface Mount |
Úroveň citlivosti na vlhkost (MSL) | 1 (Unlimited) |
Výrobní standardní doba výroby | 42 Weeks |
Typ logiky | ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers |
Stav volného vedení / RoHS | Lead free / RoHS Compliant |
Detailní popis | ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers IC 64-TSSOP |
Číslo základní části | 74LVTH182512 |
IC REGISTERED BUFFER 160-TFBGA
IC TXRX NON-INVERT 3.6V 48SSOP
IC BUFFER 1.8V 25BIT SOT536-1
IC RECEIVER/DRVR ECL DIFF 8SOIC
Na skladěIC ABT SCAN TEST DEV 3.3V 64LQFP
IC ABT SCAN TEST DEV 3.3V 64LQFP
IC DRIVER QUAD DIFF PECL 16-SOIC
IC TXRX 8BIT TTL/BTL 52-QFP
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
IC BUFFER 1.8V 25BIT SOT536